當前位置:首頁 >產(chǎn)品中心>三次元>3D掃描儀>RVL6540TOSOK高速三維3D掃描儀
簡要描述:TOSOK高速三維3D掃描儀 RVL6540是符合JISB7441測量基準的高精度掃描儀.采用在醫(yī)療領域誕生的遮光方式,進行精密測定,數(shù)碼存檔,反轉(zhuǎn)工程,已面向新上市了。獲得JISB7441規(guī)定的精度檢驗合格,以高精細的掃描技術,在珠寶首飾,模型業(yè)界等廣泛得以應用。
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特長
由量規(guī)制造廠家推出的在精度,功能,便利性,性價比方面都另人滿意的系統(tǒng)裝置。
主要規(guī)格
[1]大允許誤差 : ±20µm(*1)
[2]反復精度 : 10µm(*2)
[3]測量范圍 : Φ170,height 40mm 或 Φ140,高度 110mm 的圓筒內(nèi)能容納的范圍
[4]小點群數(shù)據(jù)間隔 : 0.02mm
[5]作成數(shù)據(jù)的時間:從掃描開始到作成STL數(shù)據(jù)大約10分鐘
[1]高精度20µm (測量球間距離的實際測量值)
審定用球桿儀
[2]*的自制高剛性驅(qū)動系統(tǒng)
制動器(剛性分析)
制動器(照片)
[3]*的自制控制系統(tǒng)
高速圖像處理板
解決方案
以Φ140mm以內(nèi)的工件為掃描對象,3面粘在一起的情況n >> 約10分鐘
10分鐘內(nèi)可進行掃描+面的粘合,可大幅度縮短在掃描儀上的工作時間。
代表性事例
產(chǎn)品制造的效率化在各個領域作出貢獻!
規(guī)格
規(guī)格 | RVL6540 | RVL6540-L |
---|---|---|
大允許誤差 (JIS B 7441) | ±20µm | ±50µm |
反復精度 | 10µm | 20µm |
掃描尺寸 | Φ170mm*H40mm Φ140mm*H110mm | Φ200*150mm |
裝置尺寸 | 620*424*598mm | 652*485*618mm |
PC | CPU:Xeon(R) 2磁芯 | CPU:Xeon(R) 2磁芯 |
液晶屏 | 20英寸 | 20英寸 |
電源 | 100V~240V | 100V~240V |
消耗電量 | 300VA | 300VA |
重量 | 60kg | 66kg |
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